Now showing items 1-2 of 2

  • Bleem, L.E.; Klein, M.; Abbott, T.M.C.; Ade, P.A.R.; Aguena, M.; Alves, O.; Anderson, A.J.; Andrade-Oliveira, F.; Ansarinejad, B.; Archipley, M.; Ashby, M.L.N.; Austermann, J.E.; Bacon, D.; Beall, J.A.; Bender, A.N.; Benson, B.A.; Bianchini, F.; Bocquet, S.; Brooks, D.; Burke, D.L.; Calzadilla, M.; Carlstrom, J.E.; Carnero Rosell, A.; Carretero, J.; Chang, C.L.; Chaubal, P.; Chiang, H.C.; Chou, T.-L.; Citron, R.; Corbett Moran, C.; Costanzi, M.; Crawford, T.M.; Crites, A.T.; da Costa, L.N.; Haan, T.; De Vicente, J.; Desai, S.; Dobbs, M.A.; Doel, P.; Everett, W.; Ferrero, Ismael; Flaugher, B.; Floyd, B.; Friedel, D.; Frieman, J.; Gallicchio, J.; García-Bellido, J.; Gatti, M.; George, E.M.; Giannini, G.; Grandis, S.; Gruen, D.; Gruendl, R.A.; Gupta, N.; Gutierrez, G.; Halverson, N.W.; Hinton, S.R.; Holder, G.P.; Hollowood, D.L.; Holzapfel, W.L.; Honscheid, K.; Hrubes, J.D.; Huang, N.; Hubmayr, J.; Irwin, K.D.; Mena-Fernández, J.; James, D.J.; Kéruzoré, F.; Knox, L.; Kuehn, K.; Lahav, O.; Lee, A.T.; Lee, S.; Li, D.; Lowitz, A.; Marshal, J.L.; McDonald, M.; McMahon, J.J.; Menanteau, F.; Meyer, S.S.; Miquel, R.; Mohr, J.J.; Montgomery, J.; Myles, J.; Natoli, T.; Nibarger, J.P.; Noble, G.I.; Novosad, V.; Ogando, R.L.C.; Padin, S.; Patil, S.; Pereira, M.E.S.; Pieres, A.; Plazas Malagón, A. A.; Pryke, C.; Reichardt, C.L.; Rodríguez-Monroy, M.; Romer, A.K.; Ruhl, J.E.; Saliwanchik, B.R.; Salvati, L.; Sanchez, E.; Saro, A.; Schaffer, K.K.; Schrabback, T.; Sevilla-Noarbe, I.; Sievers, C.; Smecher, G.; Smith, M.; Somboonpanyakul, T.; Stalder, B.; Stark, A.A.; Suchyta, E.; Swanson, M.E.C.; Tarle, G.; To, C.; Tucker, C.; Veach, T.; Vieira, J.D.; Vincenzi, M.; Wang, G.; Weller, J.; Whitehorn, N.; Wiseman, P.; Wu, W.L.K.; Yefremenko, V.; Zebrowski, J.A.; Zhang, Y. (Journal article / Tidsskriftartikkel / PublishedVersion; Peer reviewed, 2024)
    We present a catalog of 689 galaxy cluster candidates detected at significance [Math Processing Error] via their thermal Sunyaev-Zel’dovich (SZ) effect signature in 95 and 150 GHz data from the 500-square-degree SPTpol ...
  • Schiappucci, E.; Bianchini, F.; Aguena, M.; Archipley, M.; Balkenhol, L.; Bleem, L.E.; Chaubal, P.; Crawford, T.M.; Grandis, S.; Omori, Y.; Reichardt, C.L.; Rozo, E.; Rykoff, E.S.; To, C.; Abbott, T.M.C.; Ade, P.A.R.; Alves, O.; Anderson, A.J.; Andrade-Oliveira, F.; Annis, J.; Avva, J.S.; Bacon, D.; Benabed, K.; Bender, A.N.; Benson, B.A.; Bernstein, G.M.; Bertin, E.; Bocquet, S.; Bouchet, F.R.; Brooks, D.; Burke, D.L.; Carlstrom, J.E.; Carnero Rosell, A.; Carrasco Kind, M.; Carretero, J.; Cecil, T.W.; Chang, C.L.; Chichura, P.M.; Chou, T.-L.; Costanzi, M.; Cukierman, A.; da Costa, L.N.; Daley, C.; de Haan, T.; Desai, S.; Dibert, K.R.; Diehl, H.T.; Dobbs, M.A.; Doel, P.; Doux, C.; Dutcher, D.; Everett, S.; Everett, W.; Feng, C.; Ferguson, K.R.; Ferrero, Ismael; Ferté, A.; Flaugher, B.; Foster, A.; Frieman, J.; Galli, S.; Gambrel, A.E.; García-Bellido, J.; Gardner, R.W.; Gatti, M.; Giannantonio, T.; Goeckner-Wald, N.; Gruen, D.; Gualtieri, R.; Guns, S.; Gutierrez, G.; Halverson, N.W.; Hinton, S.R.; Hivon, E.; Holder, G.P.; Hollowood, D.L.; Holzapfel, W.L.; Honscheid, K.; Hood, J.C.; Huang, N.; James, D.J.; Knox, L.; Korman, M.; Kuehn, K.; Kuo, C.-L.; Lahav, O.; Lee, A.T.; Lidman, C.; Lima, M.; Lowitz, A.E.; Lu, C.; March, M.; Mena-Fernández, J.; Menanteau, F.; Millea, M.; Miquel, R.; Mohr, J.J.; Montgomery, J.; Muir, J.; Natoli, T.; Noble, G.I.; Novosad, V.; Ogando, R.L.C.; Padin, S.; Pan, Z.; Paz-Chinchón, F.; Pereira, M.E.S.; Pieres, A.; Plazas Malagón, A.A.; Prabhu, K.; Prat, J.; Quan, W.; Rahlin, A.; Raveri, M.; Rodriguez-Monroy, M.; Romer, A.K.; Rouble, M.; Ruhl, J.E.; Sanchez, E.; Scarpine, V.; Schubnell, M.; Smecher, G.; Smith, M.; Soares-Santos, M.; Sobrin, J.A.; Suchyta, E.; Suzuki, A.; Tarle, G.; Thomas, D.; Thompson, K.L.; Thorne, B.; Tucker, C.; Umilta, C.; Vieira, J.D.; Vincenzi, M.; Wang, G.; Weaverdyck, N.; Weller, J.; Whitehorn, N.; Wu, W.L.K.; Yefremenko, V.; Young, M.R. (Journal article / Tidsskriftartikkel / PublishedVersion; Peer reviewed, 2023)